English

高纯金属钪靶材 Scandium sputtering target

产品名称:高纯金属钪靶材

产品别称:钪靶、钪溅射靶材、钪靶组件

英文名称:Scandium sputtering target

颜色:银色

熔点:1541°C

沸点:2836°C

密度: 2.985 g / cm3

纯度:Sc/TREM≥99.99%  TREM≥99.9%

致密度:>99.5%

平均晶粒尺寸:<500μm

表明粗糙度: <2μm

规格:方靶、圆靶、旋转靶(尺寸可按客户要求定制)

绑定:铟钎焊接(绑定方式和背板材质可按照客户定制)

技术特点:超真空熔铸,靶材洁净化塑性加工


高纯金属钪靶材简介

金属钪靶是通过物理气相沉积(PVD)制备金属钪薄膜的关键材料。金属钪靶组件是由钪靶坯和背板焊接组成。钪靶坯是高速离子束轰击的目标材料,属于溅射靶材的核心部分,在溅射镀膜过程中,钪靶坯被离子撞击后,其表面的钪原子被溅射飞散出来并沉积于基板上制成电子薄膜。 由于高纯金属钪较软,溅射靶材需要安装在专用的机台内完成溅射过程,机台内部为高电压、高真空环境。因此,钪靶坯需要与背板通过不同的焊接工艺进行接合(绑定bonding),背板主要起到固定溅射靶材的作用,且需要具备良好的导电、导热性能,一般为铜材质。常用的绑定方式有电子束焊接、扩散焊接、铟钎焊接、胶粘四种,其中以铟钎焊接绑定使用范围最广。

 



高纯金属钪靶材的用途

金属钪薄膜可用于制备铝钪氮AlScN压电薄膜,铝钪氮是目前极具前景的半导体材料。 AlScN压电薄膜材料具有声速高,热稳定性好、带隙宽、尤其是与CMOS工艺兼容等显著优点,同时可以克服氮化铝(AlN)压电薄膜存在的压电系数小、机电耦合系数低等不足,在体声波(BAW)、声表面波(SAW)、能量收集、超声探测以及场效应晶体管中具有重要应用。通过将高含量的钪元素掺入氮化铝,射频器件的压电性能和机电耦合系数能取得显著提升。AlScN可取代5G射频前端BAW(FBAR)/SAW滤波器中的氮化铝材料,并在新一代功率器件领域极具应用前景。

在半导体芯片镀膜中,对金属钪靶坯的纯度和微观结构都有严格要求,若杂质含量过高,形成的薄膜就无法达到使用所要求的电性能,并且在溅射过程中易在晶圆上形成微粒,导致电路短路或损坏,将严重影响薄膜的性能。我院生产的金属钪靶采用高纯金属钪原料Sc/TREM>99.99%,轧制后晶粒尺寸小于500μm,致密度>99.5%,已供货多家世界知名半导体企业。